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― 最先端RF・ミリ波技術を実務に活かす ―

6G・Wi‑Fi 7/8 へ向かう高速・高周波技術を、最前線で実装したいエンジニア・研究者の皆様へ!

急速に進化するミリ波・テラヘルツ領域。「高周波・高出力デバイスの実装・評価」 が製品化の鍵を握ります。本セミナーでは、業界標準をリードする最新の測定・評価手法と、実信号を駆使した実証データをご紹介。

 

- お申込み先着40名様となりますので、お早めにお申し込み下さい -

詳細

年7月9日
10:00 - 19:00
Rohde & Schwarz

ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社

品川区西品川1-1-1 住友不動産大崎ガーデンタワー 20階
141-0033
日本

アジェンダ

アジェンダ
9:45 — 10:00
受 付
10:00 — 10:10
オープニングスピーチ
山下 義雄 セールスマネージャ picture
山下 義雄 セールスマネージャ
10:10 — 10:50
窒化物HEMTを中心とした高出力・高周波デバイス研究の現状と展望

ポスト5G/6G通信の実現を背景に、高出力・高周波デバイスの特性向上を巡る研究開発が世界的に進められている。窒化物半導体材料を用いた高電子移動度トランジスタ(HEMT)は、その優れた材料特性により高出力かつ高周波動作を可能とする重要な素子であり、さらに有害物質を含まないという利点から、近年重要性がより高まっている。我々は窒化物材料を中心に、結晶成長、デバイスプロセス、シミュレーション、高周波評価に至るまで横断的に研究開発に取り組んできた。本講演では、これまでのHEMTに関する研究成果を中心に紹介し、高周波特性の観点から次世代デバイス技術の方向性を示す。

後藤 高寛 氏 AIST:産業技術総合研究所
10:50 — 11:10
周波数行政/業界トレンド

日本を含むUS以外の国でのWi-Fi 6 GHz帯 Standard Power(SP) デバイス (AP: 36dBm, Station: 30dBm) 導入の動きが進んでいます。また隣接する7.125~8.4 GHz帯が6Gの最有力候補となっています。本講演では主に6~8GHzで使われる5G, Wi-Fi, 6G等の各国の動向とRFコンポーネントに求められる動向を紹介すると共に10 GHz ~ 15 GHz KuバンドでのNTN及び6Gに関する動向についてもご説明します。

冨田 浩史 アプリケーションエンジニア picture
冨田 浩史 アプリケーションエンジニア
11:10 — 12:00
実信号を用いた広帯域アクティプRFコンポーネントの特性評価

ローデ・シュワルツの新しいシグナル・スペクトラム・アナライザFSWXを使った最新のデバイス測定手法を、高出力バワーアンプ(PA) 特性解析と周波数変換ローノイズプロックダウンコンバータ(LNB)評価を例として解説します。2ポート入力や独立LOの採用によって、従来困難だった入出力比較や高出力デバイス測定を高精度で実現します。広帯域・高性能測定を必要とする開発者に向け、FSWXが提供する新しい測定スタンダードをご紹介します。

尾崎 超 アプリケーションエンジニア picture
尾崎 超 アプリケーションエンジニア
12:00 — 13:00
お昼休憩

ご昼食には、お弁当をご用意いたします。

13:00 — 13:50
プローブシステムを用いた110GHz高信頼測定ソリューション

近年AIデータセンターにおけるデータ伝送速度は絶え間なく高速化され、伝送線路、周辺回路、その根幹となるコンポーネントにも広帯域な周波数特性が求められています。また、車載レーダ、6G/NTNのような通信システム、サブTHzアプリケーションもまた基本性能に加え、高次スプリアス特性が重要となっています。
こうした広帯域に渡る特性を測定する上で、最初の重要課題はプローブの選択です。本セッションでは110GHzにおよぶプローブを用いた部品特性評価の基礎・応用・ノウハウ、そして測定治具の影響を低減する高精度ディエンベディング技術をご紹介します。

横溝 明大 アプリケーションエンジニア picture
横溝 明大 アプリケーションエンジニア
萩谷 行雄 氏 MPI Corporation Sales Manager
13:50 — 14:30
RFコンポーネント測定における位相情報の重要性と校正技術

ネットワークアナライザによるRF測定では振幅に注目が集まりがちですが、本セッションでは位相情報の重要性に焦点を当てます。校正済み位相の必要性を説明し、コムジェネレータのトレーサビリティと校正手法の概要を解説します。さらに、周波数変換デバイスを例に、位相測定ソリューションの有効性をご紹介します。

横溝 明大 アプリケーションエンジニア picture
横溝 明大 アプリケーションエンジニア
14:30 — 15:00
休 憩 & 技術相談

休憩時間中に、弊社のエンジニアによる技術相談窓口を開催します。計測器を使用されていて、日頃から疑問に思っている点や、お困りごと等をご相談下さい。

15:00 — 15:50
ミリ波時代到来に伴う材料パラメータの高精度評価の重要性

・昨今のミリ波デバイスの普及に伴い、周波数や材料に合わせた適切な材料パラメータ計測手法の最先端について説明します。
・誘電率だけでなく導電率もミリ波帯においては重要なファクタになる事と、その計測手法について説明します。
・さらに、製品開発評価段階における電磁界シミュレーションの有用性と、そのために不可欠な材料パラメータの高精度評価について説明します。

益村 友之 氏 ネクステム株式会社 取締役
15:50 — 16:40
拡張OTAに向けて:アンテナデジタルツイン手法

本セッションでは、車載アンテナ等の評価の高度化に向けた「アンテナデジタルツイン解析」手法を紹介する。

アンテナ周辺部材を含めたDUTの近傍界測定による振幅位相情報から、等価放射源モデル(デジタルツイン)を生成することで、より実測値に近い電磁界シミュレーションを実現するアプローチを解説。さらに、設計最適化や開発効率向上、コスト削減、品質改善への効果について具体事例を交えて示す。

エルフィー・タン (Elfie Tan) プロジェクトマネージャー picture
エルフィー・タン (Elfie Tan) プロジェクトマネージャー
16:40 — 16:50
Q&Aセッション
17:00 — 18:00
懇親会

ささやかではございますが、お料理と、お飲み物等をご用意しておりますので、是非ご参加頂ければと存じます。また、お客様同士でのネットワーキング構築の場としてご利用頂ければ幸いです。

MPI Corporation

MPI Corporation

MPI Corporationは、30年以上にわたり半導体のテストおよび測定技術の革新を推進してきました。
  • www.mpi-corporation.jp
  • MPI Corporation

    最先端技術と学術的専門知識を融合することで、革新・協力・継続的成長の文化を育んでいます。この相乗効果により、長期的な価値を創出し、お客様が急速に変化するグローバル市場で競争力を維持できるよう支援します。MPIは、台湾で初めて台北証券取引所(TPEx)に上場したプローブカード企業です。

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ネクステム株式会社

ネクステム株式会社

VNAを用いた電子材料の誘電率・導電率測定技術の最先端
  • www.nextem.co.jp
  • ネクステム株式会社

    次世代の高速通信や高精度レーダーセンシングにおいて、誘電体・導電体材料の電気的特性を正確に把握することは極めて重要です。特にミリ波帯の活用においては、材料による損失が設計の成否を分ける大きな要因となります。
    当社は、高精度な各種共振器とR&S製ベクトルネットワークアナライザ(VNA)を融合し、確かな測定手法で材料特性をモデル化することで、電磁界シミュレーションの整合性を高め、デバイスのパフォーマンス最大化に貢献します。

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ベクターセミコン株式会社

ベクターセミコン株式会社

ベクターセミコンは、半導体や液晶パネルの研究開発に特化したプローブステーションの製造、販売、測定ソリューションのご提案を行っております。

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