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Rohde & Schwarz France a le plaisir de vous inviter à son TechDay qui se tiendra :

 

Mardi 30 Juin, de 9h à 16h30
Amphi Eugène Constant, IEMN 
Cité Scientifique Avenue Henri Poincaré 59 652 Villeneuve d'Ascq

 

Le Techday Rohde & Schwarz est une journée technique dédiée aux acteurs de l’enseignement supérieur et de la recherche, visant à présenter les dernières avancées en instrumentation électronique et en mesure RF, micro‑ondes et millimétriques.

À travers des présentations techniques et des démonstrations applicatives, cette journée offrira un panorama des solutions innovantes de Rohde & Schwarz pour la caractérisation avancée des signaux, la métrologie et l’analyse avancée, au service de la recherche et de l’innovation.

Ce rendez‑vous se veut un temps d’échange privilégié entre experts, enseignants, chercheurs et ingénieurs, autour des enjeux actuels et futurs de la mesure électronique.

 

Inscrivez‑vous dès maintenant et participez à une journée d’échanges autour des innovations en instrumentation RF & Hyper Fréquence 

 

Evénement gratuit comprenant le déjeuner.
Places limitées.

Détails

30 juin
Rohde & Schwarz

Institut d'électronique de microélectronique et de nanotechnologie, Villeneuve-d'Ascq, France

Avenue Kléber 112
59650 Villeneuve-d'Ascq Hauts-de-France
France

Agenda

Agenda
30 juin 2026 à 08:30 — 30 juin 2026 à 09:00
Welcome coffee
30 juin 2026 à 09:00 — 30 juin 2026 à 09:15
Introduction – ICR & Research solutions overview
30 juin 2026 à 09:15 — 30 juin 2026 à 10:30
FSWX Signal and Spectrum Analyzer: Exploring the Multi-Paths Architecture

R&S FSWX is the first multichannel signal‑and‑spectrum analyzer equipped with multiple input ports and an innovative internal multi‑path architecture. This design introduces a novel cross‑correlation capability that overcomes the limitations of conventional spectrum analyzers. The presentation will walk through the flexible multi‑path architecture, illustrate how the modular input‑port topology can be reconfigured for diverse test setups, and showcase real‑world use cases.

Karim LOUERTANI picture
Karim LOUERTANI
30 juin 2026 à 10:30 — 30 juin 2026 à 10:45
Break
30 juin 2026 à 10:45 — 30 juin 2026 à 11:15
Traceable Calibration of RF Power Sensors – Overview of products and solutions from R&S *

This talk introduces the fundamentals of traceable calibration for RF power and highlights Rohde & Schwarz power meter technologies. We will explore the concept of metrological traceability, discuss the calibration hierarchy from national standards down to end-user measurements, and demonstrate how Rohde & Schwarz products and services ensure accuracy, reliability, and compliance at every level.

* Presentation in english 

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Marcel THRAENHARDT
30 juin 2026 à 11:45 — 30 juin 2026 à 13:30
Lunch

Include

30 juin 2026 à 13:30 — 30 juin 2026 à 14:30
Phase‑Noise Analysis: From Conventional Spectrum Analyzers to Dedicated Phase-Noise Testers

Phase noise is a fundamental determinant of signal integrity in modern electronic systems such as communications, radar, and navigation, where excess noise can corrupt data transmission and degrade accuracy. This presentation reviews the principles of phase‑noise measurement and compares the two primary instrument families, versatile spectrum analyzers and dedicated high‑accuracy phase‑noise testers, highlighting their respective advantages and limitations. By understanding the capabilities of each instrument, researchers and engineers can select the most appropriate solution for their specific measurement needs, ultimately enabling more reliable system design, optimization, and performance.

 

Karim LOUERTANI picture
Karim LOUERTANI
30 juin 2026 à 14:30 — 30 juin 2026 à 14:45
Break
30 juin 2026 à 14:45 — 30 juin 2026 à 15:30
Fast and precise signal denoising with lock-in amplifiers

With the increasing complexity of modern-day experiments, reliable information recovery is more important than ever before, in terms of signal strength, artefact-free measurements or other environmental decoupling. In this presentation, you will learn how smart signal processing, based on repetition rate using lock-in technique, allows for denoising the signal of interest in realtime. From there, demodulation at multiple frequencies, optimized control in a determined bandwidth or resonance tracking becomes possible from a few Hz to multiple GHz over a wide applications range that will be briefly illustrated.

Romain Stomp picture
Romain Stomp
30 juin 2026 à 15:30 — 30 juin 2026 à 16:00
Conclusion

Partenaires

Intervenants

Romain Stomp

Application Scientist
Zurich Instruments
Romain Stomp
  • Romain Stomp

    Romain Stomp is an Application Scientist at Zurich Instruments, working from his French home office when not traveling. As an experimental physicist, he applied Scanning Probe Microscopy (SPM) techniques to single-electron detection in quantum dots and received his PhD from McGill University in Canada. His first work experience, with Nanonis in Zurich and SPECS, centered on transferring SPM to different nanotechnology applications. At Zurich Instruments, Romain enjoys the intellectually stimulating and interdisciplinary approach offered by the broad range of application areas. As a genuine truth seeker, Romain likes open discussions ranging from big data and artificial intelligence to philosophy.

    En savoir plus

Karim LOUERTANI

Product Specialist Signal and Spectrum Analyzer
Rohde & Schwarz France
Karim LOUERTANI

Marcel THRAENHARDT

R&D RF and microwave power meters
Rohde & Schwarz
Marcel THRAENHARDT

Fuseau horaire détecté